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2008年度第4回定例研究会
テーマ「生産システムを支える画像応用技術

  • 日時 2009年1月16日(金) 14:00- 受付:13:30-

  • 場所 東京電機大学 6号館 3階 6301会議室

  • 交通案内 http://www.dendai.ac.jp/map/kanda.html

  • 所在地 東京都千代田区神田錦町2-2

  • 講演(14:00-15:00)
    「光学特性を利用したIT電子部品の検査・計測技術」


  • 日立ハイテク・ファインテック製品事業本部 小泉 光義 氏
  • 講演(15:10-16:10)
    「ものづくり分野における光学的微細計測技術」


  • (株)富士通研究所 基礎技術研究所 塚原 博之 氏
  • 研究発表(16:10-16:30)
    「ICパッケージ標印文字識別法の検討―角度テンプレートマッチング法と正規化相関法の比較―」


  • 立命館大学 大学院 理工学研究科 島村 徹 氏
  • 報告(16:30-16:40)
    「第7回日仏/第5回ヨーロッパ・アジア メカトロニクス会議」


  • 香川大学 秦 清治 委員
  • 報告(16:40-16:50)
    「第3回アジアメカトロニクス国際シンポジウム報告」


  • 北海道大学 田中 孝之 実行委員長
  • 報告(16:50-17:00)
    「外観検査アルゴリズムコンテスト2008審査報告」


  • 徳島大学 寺田 賢治 委員
  • 新年会(17:30- 6号館4階6401教室)
    参加費 2000円(当日徴収)

 
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