ViEW(Vision Engineering Workshop)は、横浜ベイエリアで開催される画像技術に関する恒例の学術行事として、6月のSSIIに対する12月のViEW（ビュー）の名で親しまれております。本ワークショップは、特に日本における「ものづくり」を支える生産技術に関わる画像処理応用技術の発信源として、これまで20年間に亘り貢献してまいりました。最近は、外観検査、部品識別などの生産ラインばかりでなく、安全、セキュリティ、ITSなどの社会システム、さらには第一次産業のIT化まで、画像処理、マシンビジョンの応用分野が着実に拡がっており、ViEWのスコープも良い意味で膨張しております。こうした広範囲の最先端の研究成果の発表の場として、また、産業界と大学・研究機関の皆様の意見交換、情報収集の場として、ViEWは画像技術発展の一翼を担っております。

毎回、特別講演、オーガナイズドセッションなどで画像技術の実利用に関する最新の話題が提供され、各界から500名ほどの皆様にご参加頂いております。また、基調講演と一般講演をテーマ別に組み合わせたシングルトラックのセッション構成により、参加者全員が一堂に会して討論し、最新の情報を共有することを計画しております。さらに、本活動の創始グループの一人である故小田原豪太郎先生（東大）の功績を称えて、最優秀論文に対して「画像応用技術専門委員会　小田原賞」を授与しております。

産・官・学のすべての研究者、技術者ばかりでなく画像処理とその応用技術に関心をお持ちの皆様の参加を心からお待ち申し上げております。

ViEW2009実行委員長　坂上勝彦（産総研）